Microscopy & Elemental Diagnostics

微細構造観察と成分分析で、
モノづくりの確かな品質を支える。

匠析株式会社は、走査電子顕微鏡(SEM-EDS)を中心とした受託分析・故障解析サービスを展開いたします。 岐阜羽島駅徒歩5分の立地を活かし、お客様の目線に立った迅速な解析提案と柔軟なサポートをお届けします。

Equipment

中核分析設備

導入準備中(稼働開始に向け協議・準備進行中)

走査電子顕微鏡 / エネルギー分散型X線分析装置(SEM-EDS)

日本電子(JEOL)製 JSM-IT210LA “InTouchScope™”

最新鋭のオールインワンSEM-EDSシステム。高分解能な微細表面観察から、異物混入・不良箇所の元素定性・定量分析(EDS Mapping)までシームレスに対応。 低真空機能により、非導電性サンプルや含水試料も前処理を最小限に抑えて迅速に観察可能です。

高分解能観察 二次電子像 (SED) / 反射電子像 (BED) による形状・組成コントラスト観察
一体型 EDS 元素分析 高感度シリコンドリフト検出器(SDD)による超高速元素マッピング・定量解析
低真空モード対応 絶縁物・樹脂・生体材料の無蒸着・低ダメージ観察
大型試料・多点観察 広範囲ステージによる複数サンプルの連続自動観察
Services

事業・サービス領域

1. SEM-EDS 受託分析

自社中核設備による高精度・スピーディーな微小領域観察と元素同定。

  • 金属・半導体・セラミックスの表面微細形態観察
  • 製造ライン混入異物・付着物の同定
  • 破面・摩耗面・界面剥離の微細解析

2. 不良解析・技術相談

単に画像を撮影するだけでなく、製造プロセス改善に直結する原因究明をサポート。

  • 不具合事象に応じた解析プランの立案
  • 立会観察(立会分析)によるリアルタイム検証
  • 解析結果に基づく技術レポート作成と再発防止提案

3. 高度解析コーディネート

自社設備にとどまらず、外部の提携高度分析機関と連携した総合対応。

  • TEM超高分解能観察 / FIB微細断面作製
  • XPS / SIMS / XRD 等の表面・深さ方向分析
  • 複合分析の窓口一本化によるワンストップ対応
Company

会社概要・アクセス

会社名 匠析株式会社(Takumi Analysis Co., Ltd.)
所在地 〒501-6257 岐阜県羽島市福寿町平方三丁目28番地
事業内容 電子顕微鏡による受託分析、材料評価、不具合・異物解析、技術コンサルティング
中核設備 JEOL製 走査電子顕微鏡 JSM-IT210LA(導入準備中)
連絡先 info@takumi-analysis.co.jp

交通アクセス (Access)

★ 東海道新幹線「岐阜羽島駅」徒歩5分(立会分析・サンプルお持ち込みに最適)
【電車】 JR東海道新幹線「岐阜羽島駅」・名鉄羽島線「新羽島駅」より徒歩約5分
【お車】 名神高速道路「岐阜羽島IC」より車で約5分

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事前相談・お問い合わせ

装置導入前のご相談、今後の受託分析案件のお見積り・ご要望など、お気軽にお問い合わせください。